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        直播回顧 :光學顯微鏡在地質分析中的應用

        發布時間:2022-09-05      點擊次數:33

        光學顯微鏡在地質分析已成為常規研究技術之一,其優勢首先在于光學檢測的無損性,對樣品的分析提供安全保障;其次是大距離景深,可以更清晰的觀測微區形貌;第三是微區形貌的3D建模和測量功能,可對微區物理結構特征進行量化表征。

         

        本次課程通過介紹不同類型的徠卡光學顯微鏡在地質行業的應用,幫助您選擇最合適的設備進行分析、研究。


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        偏光顯微鏡的作用及基礎認識

        1、單偏光下的晶體特性

         

        38.png

         

        • 礦物突起

        • 礦物糙面

        • 礦物形態

        • 解理

        • 礦物顏色

        • 晶體的多色性與吸收性

         

        2、正交偏光下的晶體特性

         

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        • 礦物雙晶的觀察

        • 礦片消光類型及消光角的測定

        • 干涉色

        • 礦物延性符號的測定

         

        3、錐光鏡下的晶體特性

         

        40.png

         

        • 確定一軸晶還是二軸晶

        • 測定光性符號

        • 測量光軸角的大小

         

        DM4P常規配置介紹

         

        部分巖石樣品成像效果

         

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        云母類相關樣品顯微鏡下成像效果

         

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        偏光顯微鏡也有許多配置可供選擇,比如:顯微鏡熱臺、陰極發光儀、分光光度計等多樣化應用配置需求,滿足不同類型研究者的需求

         

        徠卡光學觀測與成分分析二合一系統:DM6M LIBS系統也可以滿足此類樣品的檢測,從目視分析到元素檢測,在短短幾秒鐘內快速識別元素且無需額外樣品制備。

         

         

        了解更多:徠卡顯微

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